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玉米考种分析系统
用途:专业玉米籽粒、果穗、截面的精确考种以及出苗数、整齐度、均匀度分析。
特点:
籽粒分析:粒数,粒长,粒宽,粒型,均匀度,平均粒长,平均粒宽,
有胚尖粒数,面积,周长,直径,长宽比例,圆度,千粒重等
截面分析:籽粒行数,轴粗,粒长,粒宽。可一次性自动测量至少15个截面
整穗分析:果穗长度,穗粗,秃尖长,穗型,左右穗缘角,穗行角,
平均粒高(厚),每粒玉米的高度(厚)。穗行数、穗粒数、可自动获得至少五个果穗
平均分析值
其他分析:千粒重,百粒重,籽粒产量